To sense the presence of an IC lead frame
Mehr Informationen »Die Halbleiterindustrie mit ihren winzigen und anfälligen Bauteilen im Reinraum erwartet spezielle Anforderungen an Sensoren.
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Bauform D10 |
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Hochleistungs-Lichtleitersensor mit doppelten Ausgangskanälen mit unabhängig voneinander konfigurierbaren Schaltpunkten. |
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PLIS-Kunststoff-Lichtleiter |
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Banner verfügt über das weltweit größte Sortiment an Lichtleitern in nahezu allen Formen und Größen. |
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WORLD-BEAM Bauform Q12 |
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Ein robuster Ultra-Miniatursensor mit mehreren Betriebsarten für präzise Erfassungen in beengten Platzverhältnissen, einschließlich solcher mit mehreren Sensoren; entspricht IP67. |
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WORLD-BEAM Bauform QS18 |
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Universelle Gehäusegestaltung mit 18-mm-Gewindenase; ideales Austauschteil für viele Standardsensoren anderer Hersteller. |
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Sensorbauform WORLD-BEAM QS30 |
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Kompakte Sensoren mit Laserbetrieb als Reflexionslichttaster mit hoher Reichweite oder für Erfassungen mit einstellbarer Hintergrundausblendung. |
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PresencePLUS-P4-Sensor |
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PresencePLUS Pro |
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Ein Bildsensor mit voller Funktionalität, der mehrere Merkmale überprüft und über Ethernet, seriell oder über Schaltausgänge angeschlossen wird. |
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VS2-Sensoren |
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Hochwertige Miniatur-Einweglichtschranken; ideale Austauschteile für viele Sensoren anderer Hersteller. |
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EZ-SCREEN-Systeme |
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Ein optisches Sicherheitssystem in Kompaktbauform für Zugangs- und Bereichssicherungen mit Reichweiten von 0,8 m bis 70 m. |
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Lasersensor der Bauform Picodot PD |
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Lasersensoren Klasse II mit sichtbar rotem Licht als Winkellichttaster und Reflexionslichtschranken für anspruchsvolle Anwendungen. |
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Lasersensor der Bauform LG |
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Kompakte, einteilige Lasersysteme für Präzisionsmessungen. |
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MINI-BEAM-Sensoren |
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Kompakte Sensoren in allen Betriebsarten, Ausführungen für Wechselstrom-, Gleichstrom- und Wechsel-/Gleichstrom-Betrieb. |
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Vorhandenseinsprüfung von Leitungsrahmen mit D10 Expert |
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Erkennung von Bonddrahtbruch mit D12-Zweileitersensor |
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Erkennung von Bonddrahtbruch mit D12-Einzelleitersensor |
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Erkennung der Kondensator-Polarität mit D11 Expert |
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Prüfung von leeren Kämmen mit T18U |
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Festplatten-Erkennung mit MINI-BEAM Expert |
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Erkennung von integrierten Schaltkreisen mit D12 |
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Erkennung von Leitungsrahmen mit MINI-BEAM2 |
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Druck-Prüfung mit D11 Expert |
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Erkennung mehrerer Komponenten mit PresencePLUS Pro |
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Erkennung von Leitungsrahmenkanten mit VS1 |
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Prüfung von Computer-Chips mit D12 Expert |
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Schleifensteuerung mit PICO-AMP |
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Steuerung von Bonddrahtschleifen mit D11 |
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Erkennung von Stapelhöhen und Klebstoffwülsten mit VS2 and D10 Expert |
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Vorhandenseinsprüfung von Wafer-Kassetten mit MINI-BEAM |
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Erkennung von Wafer-Kassetten in Flüssigkeit mit D12 |
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Prüfung der Wafer-Ausrichtung durch Roboter mit D12 |
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Erkennung von Wafer-Kassetten mit VS1 |
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Vorhandenseinsprüfung einer Wafer-Kassette im Vakuum mit D12 |
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Erfassung von Flachstellen mit D12 |
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Erfassung von Abflachungen an Wafern mit PicoDot |
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Erkennung der Ebenheit von Wafern mit MINI-BEAM Expert |
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Wafer-Mapping und Kanten-Erkennung mit M12 und Q23 |
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Wafer-Mapping in FOUP mit PicoDot |
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Schutz von Vorsprüngen und Erkennung der Ausgangsposition mit S12 und M12 |
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Erkennung von vorstehenden Wafern mit PICO-AMP |
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