Sensoren werden weitgehend benutzt zum Erkennen der An- oder Abwesenheit von Objekte oder Eigenschaften.
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Erkennung von Verzug an Brettern mit LG |
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Erkennung von Bonddrahtbruch mit D12-Zweileitersensor |
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Erkennung von Bonddrahtbruch mit D12-Einzelleitersensor |
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Profilmessung von Pfandflaschen mit MINI-ARRAY |
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Mängel-Prüfung an Kabelmantel mit OMNI-BEAM |
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Erkennung von Kisten mit S18 |
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Prüfung von CD-Stapelhöhen mit D10 Expert |
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Prüfung der Produktausrichtung mit R55E |
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Schutz beim Hydroforming in Gesenkpressen mit LT3 |
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Erkennung von Filmriss mit MINI-BEAM |
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Erkennung von Glasplatten mit VS1 |
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Erkennung durchsichtigen Plattenmaterials mit MINI-BEAM Expert |
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Festplatten-Erkennung mit MINI-BEAM Expert |
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Erkennung von Leiterplatten mit VS1 |
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Erfassung von Leiterplatten mit MINI-BEAM Expert |
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Erkennung von integrierten Schaltkreisen mit D12 |
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Vorhandenseinsprüfung von Leitungsrahmen mit D10 Expert |
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Erkennung von Leitungsrahmen mit MINI-BEAM2 |
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Druck-Prüfung mit D11 Expert |
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Erkennung mehrerer Komponenten mit PresencePLUS Pro |
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Erkennung umgedrehter Computer-Chips mit D12 Expert |
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Erkennung umgedrehter Objekte mit Q45UR |
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Erkennung umgedrehter Objekte mit T30U |
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Erfassung großer Container mit Q60 |
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Erkennung von Leitungsrahmenkanten mit VS1 |
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Prüfung von Computer-Chips mit D12 Expert |
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Kontaktlose Flüssigkeitserfassung in durchsichtigen Rohren mit FI22 |
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Leckerkennung mit Q23 |
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Erkennung von Schrumpfverpackungen an Paletten mit Q60 |
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Posten-Erfassung mit MINI-BEAM2 |
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Erkennung von perforierten Tüten mit D12 Expert |
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Produkterkennung mit T18U |
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Erkennung von Löchern in Filmstreifen mit MINI-BEAM |
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Erfassung der Trennstellen bei durchsichtigem Gewebe mit D11 Expert |
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Erkennung von Etiketten mit MINI-BEAM |
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Erkennung von Stapelhöhen und Klebstoffwülsten mit VS2 and D10 Expert |
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Erkennung von Versiegelungen mit SLC1 |
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Kantenführung und Erkennung von Gewebebruch mit D10 Expert |
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Fahrzeugerfassung in automatischen Fahrzeugklassifizierungssystemen mit MINI-ARRAY |
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Erkennung von Wafer-Kassetten in Flüssigkeit mit D12 |
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Vorhandenseinsprüfung von Wafer-Kassetten mit MINI-BEAM |
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Prüfung der Wafer-Ausrichtung durch Roboter mit D12 |
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Erkennung von Wafer-Kassetten mit VS1 |
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Vorhandenseinsprüfung einer Wafer-Kassette im Vakuum mit D12 |
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Erkennung der Ebenheit von Wafern mit MINI-BEAM Expert |
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Schutz von Vorsprüngen und Erkennung der Ausgangsposition mit S12 und M12 |
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Erkennung von vorstehenden Wafern mit PICO-AMP |
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Erkennung von Gewebebruch mit LT3 |
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