Semiconduttori

Serie D10

Sensore a fibre ottiche ad alte prestazioni con due canali di uscita a setpoint regolabile in modo indipendente.

Fibre ottiche in plastica PLIS

Ampissima scelta di fibre standard in tutte le forme e dimensioni.

Fibre ottiche in vetro

Adatte a numerose applicazioni di rilevamento impegnative, come ambienti ostili con alte temperature, materiali corrosivi e tassi di umidità estremi.

Serie WORLD-BEAM Q12

Sensore ultraminiaturizzato e robusto con modalità di rilevamento multiple per applicazioni con limitazioni di spazio e con più sensori; grado di protezione IP67.

Serie WORLD-BEAM Q20

Sensore compatto compatibile PW12 in una custodia rettangolare standard internazionale

Serie WORLD-BEAM QS18

Custodia universale con naso filettato da 18 mm; ideale sostituzione di sensori di altre marche con caratteristiche simili.

Sensori Serie WORLD-BEAM QS30

Sensori compatti, completi di elettronica, dotati di laser in modalità a tasteggio diffuso, a lunga portata o con funzionalità di soppressione dello sfondo a campo regolabile.

Sensori MINI-BEAM

Sensori compatti per tutte le modalità di rilevamento, alimentazione CA, CC e CA/CC.

Sensore laser serie Picodot PD

Sensori laser con luce rossa visibile Classe II, per modalità a tasteggio focalizzato e a riflessione, adatti per le applicazioni più esigenti.

Sensori serie QC50 True Color

Analizza e confronta in modo affidabile i colori o le diverse intensità di un colore.

Sensori T8

Sensore miniaturizzato, robusto, dai costi contenuti e completo di elettronica, per il rilevamento di precisione in piccole aree precedentemente accessibili solo usando sensori remoti e cavi in fibra ottica.

Sensori VS2

Sensori miniaturizzati di alta qualità, in modalità emettitore/ricevitore; ideale sostituzione di unità con specifiche simili.

Sensori VS3

Sensori estremamente piccoli e completi di elettronica, in modalità emettitore/ricevitore o a riflessione, per il rilevamento di precisione in aree con problemi di spazio.

Sensore Laser di misura serie LG

Sistemi di misura laser monoblocco, compatti, per applicazioni di misurazione di precisione.

Sistemi EZ-SCREEN

Sistema di sicurezza a barriera ottica completo di elettronica, appositamente progettato per applicazioni di protezione dell'accesso e del perimetro sia a corta che a lunga portata, da 0,8 m (2,6') a 70 m (230').

Modulo di sicurezza SC22-3

Modulo di sicurezza interamente configurabile per il monitoraggio di più dispositivi di sicurezza, quali pulsanti di emergenza, interruttori di interblocco, barriere ottiche di sicurezza, dispositivi di comando bimanuali e interruttori con comando a fune.

Modulo logico con microcontrollori a ridondanza diversificata, per controllare quando un sistema può bypassare (muting) in sicurezza le uscite della barriera ottica.

PresencePLUS Pro

Sensore di visione dotato di tutte le funzioni, in grado di eseguire ispezioni di più caratteristiche e comunicare via Ethernet, seriale o con uscite digitali.

Sensore PresencePLUS P4

D10 Expert - Rilevamento presenza di supporti wafer

Rilevare la presenza o l'assenza di un supporto wafer di circuito integrato

D12 con due fibre - Rilevamento della rottura del filo di saldatura

Rilevare la rottura del filo di saldatura

D12 a fibra singola - Rilevamento della rottura del filo di saldatura

Rilevare la presenza o l' assenza del filo di saldatura

D11 Expert - Rilevamento della polarità dei condensatori

Stabilire se un condensatore è orientato correttamente

T18U - Verifica di contenitori vuoti

Verificare che non rimangano dischi nel contenitore in seguito alla procedura di lavaggio.

MINI-BEAM Expert - Rilevamento di hard disk

Determinare se dischi dalla superficie brillante sono posizionati correttamente

D12 - Rilevamento di circuiti integrati

Rilevare circuiti integrati a montaggio superficiale confezionati in bobine di plastica

MINI-BEAM2 - Rilevamento del supporto wafer

Rilevare la presenza del supporto wafer di un circuito integrato.

PresencePLUS Pro - Verifica dell

Rilevare il corretto orientamento di un circuito integrato, prima dell'installazione su una scheda

D11 Expert - Controllo della stampa

Rilevare la presenza o l'assenza di informazione stampata su un oggetto di piccole dimensioni

D12 Expert - Ispezione di chip per circuiti integrati

Rilevare la presenza di aree stampate in un'ampia area di un circuito integrato

R55F - Verifica della presenza di stampe

Rilevare la presenza o l'assenza di informazioni stampate su un oggetto di piccole dimensioni.

PICO-AMP - Rilevamento di confezioni tubolari per circuiti integrati

Rilevare la presenza di una confezione tubolare per circuiti integrati

VS1 - Rilevamento del bordo di supporti wafer

Rilevare la presenza di supporti wafer in una cassetta

D12 Expert

Rilevare il foro di riferimento in un supporto wafer

PICO-AMP - Controllo dell

Controllare la velocità di una bobina contenente componenti a montaggio superficiale, in base allo stato dell'ansa

D11 Expert - Controllo dell

Controllare la quantità di filo di saldatura che viene srotolata

D10 Expert e VS2 - Rilevamento dell

Verificare che l'adesivo venga applicato correttamente ai vassoi di chip con funzionalità IP e monitorare l'altezza di impilaggio di prodotti completati

MINI-BEAM Expert - Rilevamento di cassette per wafer

Rilevare la presenza di cassette per wafer su nastro trasportatore.

D12 - Rilevamento di cassette di wafer immerse in liquido con particolato sospeso

Rilevare la presenza di una cassetta di wafer su un nastro trasportatore immerso in acqua deionizzata

D12 - Rilevamento del centro di wafer sul manipolatore di un robot

Determinare il punto centrale di un wafer posizionato su un manipolatore robotico

VS1 - Rilevamento di cassette di wafer

Rilevare in modo affidabile le cassette di wafer di qualsiasi colore

D12 - Rilevamento della presenza di wafer in ambienti sottovuoto

Determinare la presenza di un wafer su un braccio robotico all'interno di un ambiente sottovuoto

D12 - Rilevamento di lati rettilinei

Posizionamento di wafer semiconduttori tramite ricerca del lato rettilineo.

PicoDot - Rilevamento del lato rettilineo di wafer

Posizionare i wafer semiconduttori utilizzando il lato rettilineo di riferimento.

MINI-BEAM Expert - Rilevamento della planarità dei wafer

Verificare che il wafer sia perpendicolare all'asse di rilevamento

M12 e Q23 - Mappatura di wafer e rilevamento dei bordi

Rilevare i wafer in un'apposita cassetta

PicoDot - Mappatura di wafer in unità FOUP

Rilevare wafer semiconduttori posizionati in modo non corretto in una cassetta.

S12 e M12 - Protezione da sporgenze e rilevamento della posizione iniziale

Verificare 2 condizioni: che nessun wafer sporga al di fuori dei limiti della cassetta e che il robot si trovi alla posizione iniziale.

PICO-AMP - Rilevamento di wafer sporgenti

Rilevare wafer sporgenti da una cassetta