アプリケーション ハイライト
リードフレームの有無検出
ICのリードフレームの有無を検出
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半導体
微小で壊れやすい部品をクリーンルームで取り扱う半導体業界では、自動化は特に困難な課題です。 弊社の優れた製品群と知識豊富なアプリケーションエンジニアが、生産性の最適化をお手伝いします。
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D10 シリーズ ファイバセンサ |
2出力を個別に設定可能な高機能ファイバセンサ |
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グラスファイバ |
高温多湿、腐蝕性雰囲気など、環境の悪いところでの多くのアプリケーションを解決します。 |
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プラスチックファイバ |
さまざまな形状とサイズを豊富に揃えています。 |
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WORLD-BEAM Q12 シリーズ |
狭い空間における正確な検出を可能にする、複数のモードを備えた堅牢な小型センサ |
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WORLD-BEAM Q20シリーズ |
コンパクトで一般的な角型 |
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WORLD-BEAM QS18 シリーズ |
M18 のノーズと角型のハウジングを組み合わせたユニークな設計 |
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WORLD-BEAM QS30 シリーズ |
コンパクトで高機能なセンサ； レーザー、ハイパワー透過型、距離設定反射型を用意 |
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PresencePLUS P4 シリーズ |
アプリケーションに特化した一体型センサの幅広い製品群 |
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PresencePLUS Pro シリーズ |
高度な検査用のツーピースフル機能ビジョンセンサ |
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EZ-SCREEN システム |
指、手、足首検出、または機械周囲の防護や出入口防護用の2ピース （コントローラなし） のシステムです。 |
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SC22-3 セーフティコントローラ |
どのような機器を接続するか設定可能ですので、非常停止スイッチ、インターロックスイッチ、セーフティライトスクリーン、両手操作コントロール、ロープ式スイッチなどを含む多数の安全防護装置を同時に監視可能です。 |
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L-GAGE LG5 and LG10 シリーズ |
精密な測定用のコンパクトなレーザー変位センサ |
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PicoDot PD シリーズ |
限定反射型と回帰反射型のクラス 2 赤色レーザーセンサ （高精度の位置決め、検査、カウンティング用） |
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VS2 シリーズ |
薄型透過型、スポット限定反射型センサ |
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リードフレームの有無検出 |
ICのリードフレームの有無を検出 |
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リードフレームのエッジ検出 |
カセット内のリードフレームの有無 |
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集積回路のカウント |
限られたスペースにおいて集積回路のカウントを行います。 |
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ドアの開閉確認 |
光ファイバ式インターロックを使い、化学薬品を使用する洗浄工程中のドアの開閉をガードします。 |
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基板洗浄装置に残り基板がないことの確認 |
洗浄処理後に「基板洗浄装置」内にハードディスクが残っていないことを確認 |
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静電気に対して敏感な環境での保護 |
静電放電に敏感な環境でウェハーを保護します。 |
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ハードディスクの検出 |
光沢のあるディスクが適切にセットされているかの検出 |
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リードフレームの検出 |
ICリードフレームの有無検出 |
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集積回路の確認 |
回路基板の上に IC を取り付ける前に、集積回路の正しい方向を見つけます。 |
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印字の有無確認 |
ＩＣに印刷された印字の確認 |
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接着剤および積載高の確認 |
ICのダイに接着剤が塗布されているかを確認、およびダイトレイの積載高をモニタ |
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ウェハーカセットの検出 |
コンベアー上のウエハー・カセットの有無検出 |
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脱イオン水内のウェハーカセットの検出 |
脱イオン水内のコンベア上を移動するウェハーカセットの有無を検出 |
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コンベア上での検出用途 |
種々の色のウェハカセットの正確な検出 |
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ウェハーの位置決め |
オリフラ検出によるウェハーの位置決め |
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ウェハーのオリフラ検出 |
オリフラを検出することにより、ウェハーの向きを揃える |
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ウエハーの平坦検出 |
ウエハーがセンサビームに対して垂直であるかの確認。 |
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ウェハーマッピング |
ウェハーが、カセット内に正しく挿入されているかを確認 |
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ウェハマッピング |
カセット内のウェハ位置検出 |
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