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    1. Ein Teil eines zweiteiligen Systems mit einem kompletten Sortiment an Positionierungs-, Inspektions- und Analyseools, das zur Inspektion mehrerer Merkmale und für komplexe Anwendungen eingesetzt werden kann.

    2. Ein Teil eines zweiteiligen Systems mit einem kompletten Sortiment an Positionierungs-, Inspektions- und Analysetools, das zur Inspektion mehrerer Merkmale und für komplexe Anwendungen eingesetzt werden kann.

    3. Ein Teil eines zweiteiligen Systems mit einem kompletten Sortiment an Positionierungs-, Inspektions- und Analysetools, das zur Inspektion mehrerer Merkmale und für komplexe Anwendungen eingesetzt werden kann.